设备概况：1. 专利技术：多光路、多维检测光学专利技术
2. AI算法：先进的AI大模型/细分模型，精准识别缺陷及分类
3. 缺陷筛选：支持自定义缺陷标准，支持缺陷多参数组合筛选
4. 实时检测：实时在线检测，显示缺陷位置、缺陷种类
5. 缺陷分析：实时记录缺陷数据，支持多种缺陷图表分析工具
6. 产线集成：可完美集成至已有产线
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